厚度檢測應用于合金、礦石、土壤調查、三元催化、考古、貴金屬等行業的元素分析。

X-200 XRF是SciAps諸多型號中性能與價格比高的一款產品。它使用了性能較好的SDD探測器，高度優化的X射線管和探測器之間的幾何結構，同時改進了散熱性、減輕了重量，提高耐用性。在Android操作系統上運行WiFi和軟件，輕松實現智能手機的高速度、連接性和數據管理。

厚度檢測全新設計

•重量輕，1.4Kg（含電池）

•全新散熱設計，可在高達43℃以上環境溫度連續工作

•改進的內部電路設計

•全新外殼設計和金屬部件升級

•最新的軟件界面和校準

高性能和價值

X-200系列是當前市場上高性價比的分析儀器，能夠提供較好的分析速度和性能，同時具有SciAps其他SDD產品如

X-505/X-550等相同的準確性和吞吐量。

X射線管

40 kV Rh陽極，用于合金

50 kV Au陽極，用于地球化學、土壤、RoHS等

規格說明

合金模式：Mg，Al，Si，P，S，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Y，Se，Zr，Nb，Mo，Ru，Pd，Ag，Au，Cd，Pb，Bi，Sn，Sb，W，Ta，Hf，Re。

礦石模式：Mg，Al，Si，P，S，K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Sr，Rb，Zr，Nb，Mo，Au，Ag，Sn，Sb，Ta，W，Pb。

土壤模式：P，S，K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Y，Zr，Nb，Mo，Ag，Cd，Sn，Sb，Ba，Hg，Tl，Pb。

貴金屬模式：Ti，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，W，Zn，Ga，Ge，Ir，Pt，Au，Rh，Ru，Pb，Bi，Zr，Pd，Cd，In，Ag，Sn，Sb。

注：可根據客戶需求添加元素